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涂層測厚儀的技術發展

日期:2025-07-04 07:16
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摘要: 涂層測厚儀的技術發展 涂層測厚儀的技術發展 涂層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確的要求。 涂層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源...
涂層測厚儀的技術發展

涂層測厚儀的技術發展
涂層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確的要求。
涂層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄涂層、雙涂層、合金涂層。β射線法適合涂層和底材原子序號大于3的涂層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣涂層測厚時采用。
近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的金屬涂層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用廣泛的金屬涂層測厚儀器。
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